Die 5D Mark II hat einen im Verhältniss 40:60 teildurchlässigen Spiegel. Das AF System sitzt hinterhalb des Spiegels im Boden und läuft nicht über die Mattscheibe. Ausschliesslich das Belichtungsmesssystem läuft darüber. Deshalb hast Du einen verlässlichen AF. Die Belichtungsmessung bei einer Schnittbildscheibe kann gestört werden. Warum? Weil bei einer Schnittbildscheib in der Regel der Mittelkreis heller ist als der Rest. Denke bei der Mehrfeldmessung könnte es unterbelichten.

Mach mal folgendes:

Kamera auf Stativ - Belichtung auf Spotmessung oder mittenbetonte Messung auf ein beliebiges Objekt durch den Sucher bei Modus AV. Danach in Liveview das Fokusfenster ins Zentrum bewegen und erneut ein Bild machen. Das hat zur Folge, dass die Mark II die Belichtung einmal über das Belichtungssystem und einmal über TTL - also Sensor - misst. Bilder vergleichen, dann siehst ob das ganze einigermassen verlässlich läuft.


Gruss
Tobi