Hallo,
ich kann Henry nur zustimmen, die Arbeit mit Chip ist deutlich einfacher (bei EOS, nur dafür kann ich sprechen), da die Referenz einfach gegeben ist. Eine echte Arbeitsblendenmessung kann die EOS nicht, ein Problem, dass nicht nur am Balgen das Arbeiten nicht wirklich erleichtert. Wie sensibel das ganze ist zeigt die Thematik, dass die programmierbaren Adapter-Chips die Möglichkeit bietet, die "reale" Arbeitsblende in EXIF zu speichern. Dabei entgleist aber die Belichtung regelmäßig. Ich bastle derzeit an einer Serie, eine ganze Reihe Aufnahmen sind schon entstanden, die den Effekt gut zeigen. Kommt gelegentlich auf Flickr in Alben geordnet.
Es kommen da viele Einflüsse zusammen:
- das Kameramodell,
- das angewendete Messverfahren (Mittenbetont, Mehrfeld, Spot),
- das verwendete Objektiv (das hängt anscheinend auch am Lichteinfallswinkel, weniger an der Brennweite),
- der Chip (es gibt neben dem bekannten EMF ja auch noch den "Dandelion" und den "Optix", wobei letzterer dem Vernehmen nach dem Effekt nicht zeigt, habe aber keinen,
- und das Belichtungsniveau selbst.
Was mich interessieren würde ist, welche Daten da überhaupt ausgetauscht werden, denn mir scheint, da werden in der Kamera auch Daten zum Objektiv verrechnet, die nicht außen drauf stehen. Blende und Brennweite auf jeden Fall, ich vermute aber, dass zumindestens die neueren Originalobjektive auch Korrekturdaten mitliefern.
MfG
Jörg